论文题目:高维数据生产过程质量监控方法研究
摘要:随着智能制造在全球范围内快速发展,智能设备的不断引入和广泛应用,制造过程的复杂性和传感器种类的多样性,使得用于监测生产过程运行状态的数据具有非线性、非正态、高维度等特点。智能制造背景下,高维数据生产过程的质量监控引起了愈来愈多学者的关注。在以往的生产过程监控研究中,大都利用控制图方法实现生产过程的质量监控。当面对复杂的高维数据生产过程时,这些数据往往呈现出非线性的特点,且数据的分布特征难以估计。而控制图质量监控技术所构造的统计量大都需要服从一定的概率分布,从而限制了控制图质量监控方法的适用性。因此,如何针对高维数据生产过程的特点,提出有效的监控方法已成为生产过程质量监控研究的重要问题。本文在收集整理大量国内外关于过程监控的研究文献的基础上,以数据降维方法和机器学习方法为理论依据,系统地研究了面向高维数据的生产过程质量监控方法。首先,通过高维数据生产过程的质量控制研究现状分析,对高维数据降维方法、控制图质量监控方法和机器学习质量监控方法进行研究。其次,根据高维数据生产过程的特点和数据降维方法的比较研究,将局部线性嵌入(LLE)降维方法和支持向量数据描述(SVDD)方法引入到高维数据生产过程的监控中。利用局部线性嵌入方法,对高维数据进行降维,去除冗余信息,提取关键特征。进而,利用降维后的数据构建基于SVDD的生产过程质量监控模型。最后,利用仿真实验和半导体生产过程数据,对高维数据生产过程监控方法进行实证分析。将本文所提方法与其他方法的性能进行比较,结果显示:本文所提的LLE-SVDD模型对于高维数据生产过程具有良好的监控效果,验证了该模型的有效性和适用性。本文研究特色与创新之处在于:(1)针对高维数据生产过程中的“维度灾难”问题,利用局部线性嵌入方法对高维数据降维,可提高质量监控效率。(2)利用SVDD方法对降维后数据进行识别并利用粒子群优化方法对SVDD模型进行参数寻优。(3)LLE-SVDD质量监控方法的实证分析表明了该方法对高维数据质量监控的有效性。本文的研究不仅提供了一套可操作的高维数据生产过程质量监控方法,而且为其他生产过程的质量监控提供了新思路和实施途径。
关键词:高维数据生产过程;质量监控;数据降维;局部线性嵌入;支持向量数据描述
学科专业:企业管理
摘要
Abstract
第一章 绪论
第一节 研究背景与意义
一 研究背景
二 研究意义
第二节 主要研究内容与方法
第三节 本文特色与创新之处
第二章 高维数据生产过程的质量控制研究现状
第一节 高维数据降维方法
一 线性降维方法
二 非线性降维方法
第二节 控制图质量监控方法
一 单变量控制图
二 多变量控制图
第三节 机器学习质量监控方法
一 机器学习方法
二 基于机器学习的质量监控方法
第三章 高维数据生产过程LLE-SVDD质量监控方法
第一节 局部线性嵌入的降维方法
一 局部线性嵌入方法基本原理
二 局部线性嵌入参数选择及确定
第二节 支持向量数据描述方法
一 支持向量数据描述方法原理
二 SVDD参数选择及确定
第三节 基于LLE-SVDD的质量监控模型
一 基于LLE-SVDD的质量监控模型构建
二 基于LLE-SVDD的质量监控模型评价
第四章 LLE-SVDD质量监控方法实证分析
第一节 LLE-SVDD质量监控模型仿真实验
一 仿真数据生成
二 局部线性嵌入特征提取
三 SVDD方法的参数选择
第二节 LLE-SVDD模型性能对比分析
一 LLE-SVDD模型实验结果分析
二 不同监控方法的比较研究
第三节 高维数据生产过程质量监控实例分析
一 半导体制造过程数据集描述
二 半导体制造过程LLE-SVDD质量监控模型
三 半导体制造过程质量监控结果分析
第五章 结论与展望
第一节 研究结论
第二节 研究展望
参考文献
致谢
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